EBSD: 電子後方散乱回折

電子後方散乱回折（EBSD）は、走査電子顕微鏡（SEM）において、ミリメートルからナノメートルオーダーの微細構造を定量的に解析するために使用されます。

このウェブサイトは、EBSDに興味を持つすべての人に、知識と指針を提供しています。学生や 初心者の方から、復習を必要とする一般ユーザー、そして技術の高度な側面をよりよく理解しようとする専門家まで、EBSDに興味を持つすべての人が対象です。

このウェブサイトは、2つのパートに分かれています。最初のパートは、EBSDの概要を包括的に説明することを目的としています。基礎となる物理学からパターンの照会に関わるステップまでEBSDの基本をカバーし、EBSD分析のさまざまな技術について説明した後、様々な応用分野における問題解決にEBSDがどのように使用されているかを紹介する予定です。このサイトの第2部は、EBSDを使用する人々、特にオックスフォード・インストゥルメンツのEBSDシステムのユーザーに対して、より実用的な支援を提供することを目的としています。サンプル前処理やEBSD分析のセットアップのための実用的なヒントを提供し、オックスフォード・インストゥルメンツのEBSDハードウェアとソフトウェアで使用されている主要技術の多くを説明し、最後に、あなたのEBSDシステムを最大限に活用するために役立つビデオ、チュートリアル、EBSDテーマのブログの広い範囲を集約しています。

本サイトは非商業的なものであり、皆様からのフィードバックや社内のEBSD専門家との交流をお待ちしています。

Oxford Instruments NanoAnalysis は、エネルギー分散型分光法（EDS）、波長分散型分光法（WDS）、電子後方散乱回折法（EBSD）を可能にする電子顕微鏡用解析ソリューションを提供します。本ウェブサイトには、Oxford Instruments のメインサイトの関連製品および応用例ページへのリンクが掲載されています。