EBSDの説明
分析法
アプリケーション
ヒントとコツ
技術
電子後方散乱回折（EBSD）検出器は、おそらくあらゆるEBSDシステムにおいて最も重要な構成部品です。2017年に発売されたSymmetry EBSD検出器は、相補型金属酸化膜半導体（CMOS）センサーを使用した最初の市販EBSD検出器となり、並外れた分析速度と回折パターン分解能の比類ない組み合わせを実現しています。2018年、オックスフォード・インストゥルメンツはその後、CMOS検出器シリーズを完成させるために、C-NanoとC-Swiftという2つのEBSD検出器を追加発売しました。3つの検出器はすべて、独自の光ファイバーレンズシステムとカスタマイズされたCMOSセンサーによって提供される、市場をリードする感度を特長としています。光ファイバーと感度の重要性については、こちらで詳しく解説しています。
最新のSymmetry S3検出器の発売により、最大分析速度が5700パターン/秒（pps）以上に向上し、わずか数秒で材料の特性評価を行うことができます。各検出器の主な特長については、下記をご覧ください。また、Oxford Instruments NanoAnalysisの主な製品ページもご覧ください。
Symmetry S3は、市場で唯一のオールインワンEBSD検出器で、先進のCMOS技術を採用した世界初のEBSD検出器である革新的なSymmetry検出器をベースにしています。あらゆるEBSDアプリケーションに対応する非常に優れた性能に加え、使いやすさと革新的な設計機能を備えています。主な特徴は以下の通りです。
詳細は、Symmetry S3 製品ページでご確認ください。
このプロモーションビデオで、Symmetry S3 検出器の多用途性と性能をご自身の目で確認してください。
C-Nano+は、多用途で効果の高いEBSD検出器です。Symmetry 検出器がもたらした革新的なテクノロジーは、C-Nano+にも搭載され、クラス最高レベルの性能をエントリーレベルで実現しています。C-Nano+はあらゆる種類のサンプルの特性評価に適していますが、その高いピクセル分解能により、詳細なひずみ解析や、複雑で難しい材料のルーチンワークにも最適です。特徴は以下の通りです。
詳細は、C-Nano+ 製品ページでご確認ください。
C-Swift+は、日常的な材料解析や 高いスループットのサンプル特性評価用に設計されたCMOS検出器ファミリーの新製品です。
C-Swift+は、SymmetryがEBSD検出器として画期的であった多くの特徴を備えており、もちろんEBSDのためにカスタマイズされたCMOSセンサーも搭載しています。主な特徴は以下の通りです。
詳細は、C-Swift+ 製品ページでご確認ください。
© Oxford Instruments 2024